要怎么样测试锂电隔膜厚度？
来源：宝鄂实业
2022-06-01 13:20
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隔膜厚度在线测试原理主要是将射线通过隔膜以后的衰减量转换成隔膜厚度。这意味着在测试过程中非得要保证测试的精度和稳定性。
通过传感器恒温控制技术及内标样技术来保证测试的精度和稳定性。其中，内标样技术可以自动定期标定，以保证传感器的稳定性，从而消除空气中粉尘带来的影响，尤其是在测陶瓷涂层时，会出现陶瓷掉粉等现象。
在测试过程中，由于陶瓷涂层厚度非常低，测量准确度一直被行业内的人士质疑。使用单架的X射线来测试陶瓷涂层厚度。
以基膜为20μ，陶瓷涂布量为2μ和4μ的数据来为X射线分解：空载数据I0=54272，20μm基膜的测量数据Ib=53383，20μm+2μm(涂层)的测量数据Ir=51590测得20μm+4μm(涂层)的测量数据是49829。通过公式算出来对应的基膜是20.017μ，灵巧度K值是1212，陶瓷涂布量为2的数值是2.008，它的K值是58.8；对应陶瓷涂布量为4μ的数值是4.051，K值也一样是58.8。
这就很好的说明了一个问题，陶瓷涂层的衰减量远远大于原膜。两者灵巧度相差20倍左右，所以说用X射线在涂布后测的数据主要反映了陶瓷涂层的厚度，基膜的衰减量相对陶瓷来说小到可以忽略不计。
用其他几种隔膜做了探测，对应20μ的原膜，厚度变化都是在3μ以内。通过计算和实际测量，对应原膜厚度3μ的变化，采用X射线测厚的显示误差为正负0.08μ。也就是说用X射线在涂完陶瓷的隔膜上测试，当基膜变化在3μ的情况下，对陶瓷涂层测试的误差影响也惟有正负0.08μ以内，而这个误差完全可以忽略。
二、隔膜厚度的在线控制技术
隔膜厚度在线控制技术主要有两个，一个是MD(纵向)控制和CD(横向)控制；另一个是隔膜在线机器视觉测试技术。
1)MD控制和CD控制
所谓的MD控制和CD控制就是指通过控制上料螺杆转速或牵引速度来进行MD方向的厚度闭环控制；以及通过扫描架进行数据测量，最终实现CD方向的数据闭环控制。
其中的关键技术就是CD的横幅对位技术，也就是扫描架的测试数据非得和全幅模头的位置一一精准对位，此外，还要考虑膜的收缩因素，惟有对位准，才能控得好。
2)隔膜在线机器视觉测试技术
可能有人会觉得通过相机就能够测试到隔膜上面的漏涂、黑点等，但图像解决板不仅能测试，还能进行智能分解。
据知道，隔膜里面非常关键的就是针孔的识别，针对隔膜测试推出了针孔识别技术，就是通过多道成像曝光来区别针孔和亮斑的技术。除了针孔识别以外还具有其他的智能分类功能，也就是智能分类的算法。通过智能分类，可以提供全面的瑕疵分解数据，帮助企业完善设备和工艺，提高产品质量。
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